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介观DIC测量
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自动对焦显微2D-DIC测量

服务概述


自动对焦显微2D-DIC测量采用自动对焦显微镜与单台工业相机,对亚毫米微区内的精细随机散斑进行连续采集。通过数字图像相关分析,可获得试样表面的X、Y方向全场位移、εxx、εyy、εxy及主应变,并连续跟踪裂纹、界面和局部结构的变形演化。

系统可与小型原位试验机或光学热台配合使用,适合微小试样拉伸、薄膜与柔性材料变形、涂层和异质界面失配、裂纹**应变集中,以及电子封装和芯片截面等微区热变形研究。

• 成像方式:单目显微2D-DIC    

• 典型物镜:10×/20×/50×    

• 参考视场:约0.88 mm × 0.66 mm至0.176 mm × 0.132 mm


测量模式


测量模式

配套平台

主要测量结果

适用情况

微区力学2D-DIC

小型原位试验机

X/Y面内位移、εxx/εyy/εxy、主应变、虚拟引伸计及局部演化

微小试样、薄膜、裂纹、涂层与界面力学变形

微区热变形2D-DIC

光学热台

微区热位移、热应变、区域平均应变及温度-应变演化曲线

芯片截面、封装界面、异质材料及局部热膨胀


典型系统布置


自动对焦显微镜微区力学配置(左)与温度加载配置(右)


核心能力


• 自动对焦显微成像,获取亚毫米微区高分辨率面内全场变形

• 输出X、Y方向位移及εxx、εyy、εxy和主应变

• 支持10×、20×、50×典型物镜,根据目标区域选择视场

• 识别裂纹**、涂层、焊缝、粘接界面及细小结构附近的应变集中

• 典型相机帧率为75帧/秒,适用于连续加载过程图像采集

• 图像可与载荷、试验机位移或温度数据同步采集

• 支持虚拟引伸计、测点、路径、截线及区域平均结果提取


可开展的测试


• 微小试样原位拉伸、压缩及分级加载测试

• 薄膜、柔性材料、橡胶及生物材料微区拉伸测试

• 缺口、孔洞及含裂纹试样局部变形与裂纹扩展测试

• 涂层/基体、焊缝、粘接界面及异质材料变形测试

• 电子封装、芯片截面及微小构件局部应变测试

• 温度加载下的微区热位移、热应变及界面失配测试

• 循环加载、疲劳过程及局部损伤演化跟踪

• 3D打印微结构及复杂细节区域面内变形测试


典型光学配置


物镜倍率升高时视场逐步缩小,可针对更小目标区域提高空间采样密度:

物镜倍率

典型参考视场

典型关注尺度

推荐应用

10×

约0.88 mm × 0.66 mm

较大微区或微小试样整体

微小试样整体变形、较宽界面及热变形区域

20×

约0.44 mm × 0.33 mm

局部结构、界面与缺口区域

局部应变集中、涂层/界面变形及裂纹跟踪

50×

约0.176 mm × 0.132 mm

更小微区与精细细节

裂纹**、芯片截面、涂层与微结构精细测量


通用配置说明

• 相机配置:单台工业相机,资料所列典型帧率为75帧/秒

• 配套平台:小型原位试验机或光学热台

• 同步数据:图像、载荷、试验机位移或温度数据

• 主要结果:X/Y面内位移、εxx/εyy/εxy、主应变及局部演化曲线

注:表中视场为典型参考值,实际视场、工作距离和空间分辨率需根据样品尺寸、物镜倍率、安装空间、观察窗口、散斑质量及目标测量区域确定。


适用对象


适用于金属、聚合物、薄膜、橡胶、复合材料、生物材料、涂层、焊接接头、粘接界面、电子封装、芯片截面、3D打印微结构及其他需要亚毫米微区面内测量的材料与构件。


典型测试案例


微区散斑场分析:虚拟引伸计应变与分级加载过程曲线

裂纹循环加载应变云图:连续跟踪加载与卸载过程中裂尖应变集中及裂纹张开—闭合响应。


典型分析关注点:

• 亚毫米目标区域面内位移与应变的空间分布;

• 裂纹**、孔洞、缺口、涂层及界面附近的应变集中;

• 不同材料区域之间的变形差异与界面协调性;

• 温度或载荷变化下局部平均应变和特征点演化。


主要输出


• X、Y方向全场位移云图

• εxx、εyy、εxy及主应变云图

• 虚拟引伸计、指定测点、路径及区域平均结果

• 载荷-位移、载荷-应变、时间-应变或温度-应变曲线

• 裂纹**、涂层、界面及局部应变集中演化结果

• 微区热位移、热应变及界面失配结果

• 变形过程云图视频、完整DIC测试报告及相关数据


测试流程


1. 确认样品尺寸、材料类型、加载方式及目标微区

2. 根据目标区域大小选择10×、20×或50×物镜

3. 制备与显微视场、倍率和测试条件相匹配的精细稳定散斑

4. 完成样品安装、工作距离调整、自动对焦、照明与试样对中

5. 完成比例尺标定并检查图像清晰度、灰度、散斑尺寸及稳定性

6. 开展力学或温度加载,同步采集图像及载荷、位移或温度数据

7. 进行2D-DIC计算,提取位移、应变、裂纹、界面及区域平均结果

8. 输出云图、曲线、视频及完整测试报告


测试前需要提供的信息


样品类型与尺寸、目标测量区域大小、加载方式、预计最大载荷或温度范围、预计变形量、可用安装空间、表面是否便于制备精细散斑,以及需要输出的位移、应变、裂纹、界面或热变形结果。

   


 


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